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立式光彈測(cè)試儀:光彈系數(shù)測(cè)試儀(ANA6000P-V)是應(yīng)用偏振光干涉原理對(duì)應(yīng)力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學(xué)構(gòu)件模型進(jìn)行實(shí)驗(yàn)應(yīng)力測(cè)試的儀器,簡(jiǎn)稱(chēng)光彈儀。應(yīng)用它可以測(cè)試 SiC晶圓、手機(jī)膜、顯示屏、石英玻璃等器件內(nèi)部的應(yīng)力雙折射/殘余應(yīng)力,以圖像形式直觀觀察被測(cè)件的應(yīng)力分布和應(yīng)力集中情況。
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